每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司宇之光（838714）新增專利信息，專利權(quán)人為宇之光，發(fā)明人是李清友、王勁。專利授權(quán)日為2022年12月20日，專利名稱為“基于電路板測(cè)量流水式的飛針測(cè)試機(jī)組”，專利類型為中國(guó)實(shí)用新型專利，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202222338774.8。

該專利摘要顯示：本申請(qǐng)公開了基于電路板測(cè)量流水式的飛針測(cè)試機(jī)組。該基于電路板測(cè)量流水式的飛針測(cè)試機(jī)組包括多臺(tái)處于同一水平線的兩兩相接的飛針測(cè)試機(jī)，飛針測(cè)試機(jī)之間通過(guò)水平行進(jìn)的水平傳輸裝置進(jìn)行連接，水平傳輸裝置用于將進(jìn)入飛針測(cè)試機(jī)組中的第一臺(tái)飛針測(cè)試機(jī)的電路板，按序通過(guò)所有飛針測(cè)試機(jī)，其中每一飛針測(cè)試機(jī)包括支持框和設(shè)置在支持框上的至少八個(gè)且為偶數(shù)個(gè)飛針測(cè)試模塊，支持框形成內(nèi)封閉平面，且所有飛針測(cè)試模塊均勻地滑動(dòng)分布在內(nèi)封閉平面的兩側(cè)。該基于電路板測(cè)量流水式的飛針測(cè)試機(jī)組可對(duì)連續(xù)進(jìn)入飛針測(cè)試機(jī)組的多塊電路板實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)試，從而提高電路板的測(cè)試效率。

(記者 曾健輝)

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