每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司攸特電子（873111）新增專利信息，專利權(quán)人為攸特電子，發(fā)明人是王露云、蘇相河、易志福、鄭鴻斌、張碧星、權(quán)鵬。專利授權(quán)日為2023年7月14日，專利名稱為“用于元器件性能測(cè)試的多功能測(cè)試治具”，專利類(lèi)型為中國(guó)實(shí)用新型專利，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202223301961.5。

該專利摘要顯示：本實(shí)用新型涉及測(cè)試治具技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種適用于元器件的多功能測(cè)試治具，包括底板及檢測(cè)部件，檢測(cè)部件包括附帶測(cè)試探針的第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)、第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)與第三檢測(cè)機(jī)構(gòu)，三個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)分別用于不同測(cè)試，底板上安裝有測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)上安裝有支架，第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)安裝于支架上且位于測(cè)試臺(tái)上方，測(cè)試臺(tái)頂部設(shè)有若干個(gè)測(cè)試銅條，第三檢測(cè)機(jī)構(gòu)安裝于底板上且位于測(cè)試臺(tái)長(zhǎng)度方向一側(cè)，三個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的測(cè)試探針?lè)謩e與外部三個(gè)不同測(cè)試設(shè)備電性連接，本實(shí)用新型在進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試時(shí)，用戶只需將產(chǎn)品放置一次，即可完成對(duì)產(chǎn)品的多項(xiàng)性能測(cè)試，無(wú)需多次取放產(chǎn)品，節(jié)省測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試效率。

(記者 曾健輝)

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